最近有一篇關(guān)于SSD固態(tài)硬盤(pán)數(shù)據(jù)可靠性的文章很流行，說(shuō)是希捷的一位工程師Alvin Cox研究發(fā)現(xiàn)固態(tài)硬盤(pán)在不通電的情況下數(shù)據(jù)會(huì)隨著時(shí)間流失，而且溫度對(duì)SSD可靠性也有非常大的影響，最后總結(jié)出大多數(shù)SSD的可靠年限只有2年，建議重要數(shù)據(jù)不要用SSD保存。權(quán)威專(zhuān)家+可怕的后果+危言聳聽(tīng)的寫(xiě)法——這簡(jiǎn)直是完美的QQ空間以及現(xiàn)在的微信圈范本，尼瑪，什么時(shí)候這也擴(kuò)散到DIY圈子了？

雖然現(xiàn)在大家都知道了SSD的好處了，但SSD始終繞不開(kāi)的一個(gè)問(wèn)題就是數(shù)據(jù)可靠性，先天性的P/E操作既給了SSD超強(qiáng)的性能，也給它帶來(lái)了隱患——數(shù)據(jù)壽命是有限的，升級(jí)帶TLC會(huì)導(dǎo)致壽命減少，升級(jí)到更先進(jìn)的制程也會(huì)導(dǎo)致壽命減少，不明真相的人民群眾難免要懷疑SSD的壽命了，這本來(lái)很合理，但前面提到的那個(gè)SSD不通電都能導(dǎo)致數(shù)據(jù)流失的傳聞是真的嗎？

一個(gè)成功的謠言絕不會(huì)100%都是錯(cuò)誤的，高明的撒謊者總會(huì)三分真中摻雜七分假，前面這個(gè)謠言也是如此——SSD不通電會(huì)流失數(shù)據(jù)以及溫度對(duì)SSD壽命有影響的說(shuō)法是對(duì)的，但把這個(gè)影響夸張到如此地步就不對(duì)了，Anandtech網(wǎng)站現(xiàn)在就出了一個(gè)打臉辟謠文章。

首先是前面那個(gè)報(bào)告作者Alvin Cox的身份，這篇報(bào)告并不是出自希捷公司的，而是JEDEC組織，Alvin Cox曾是JC-64.8標(biāo)準(zhǔn)小組（也就是SSD委員會(huì)）的主席，不過(guò)有一點(diǎn)是正確的——Alvin Cox本人確實(shí)是希捷公司資深工程師，只不過(guò)這跟他發(fā)表報(bào)告無(wú)關(guān)，JEDEC組織本身就是廠商們的聯(lián)合組織，成員來(lái)自不同廠商是很正常的事，目前JC-64.8標(biāo)準(zhǔn)小組是HGST公司的Frank Chu領(lǐng)導(dǎo)的。

在回答前面有關(guān)SSD數(shù)據(jù)保留問(wèn)題之前，我們先來(lái)了解下廠商是如何確定SSD可靠率的。首先，SSD必須保證一定的容量，因此不可能把很多區(qū)塊（blocks）用于OP空間之類(lèi)，這樣做會(huì)降低用戶(hù)的可用容量（SSD的這個(gè)特點(diǎn)可以參考我們之前的文章解釋?zhuān)?。第二，SSD必須達(dá)到規(guī)定的UBER及FFR指標(biāo)，下面的表格解釋了UBER和FFR的含義，前者是SSD讀取字節(jié)中出錯(cuò)的字節(jié)比例，F(xiàn)FR則是功能失效的比例，消費(fèi)級(jí)及企業(yè)級(jí)SSD在這兩個(gè)指標(biāo)上有不同的要求，消費(fèi)級(jí)SSD的UBER是10-15，也就是1/1015的字節(jié)讀取失敗率，F(xiàn)FR不能高于3%。

最后一點(diǎn)就是SSD不通電狀態(tài)下要達(dá)到JEDEC規(guī)定的數(shù)據(jù)保存率，消費(fèi)級(jí)SSD是30°C溫度下1年，企業(yè)級(jí)是40°C下三個(gè)月。

以上指標(biāo)最后都是用TBW來(lái)表示，這也就是我們看到的SSD標(biāo)識(shí)中數(shù)據(jù)寫(xiě)入量的意義，比如100TB數(shù)據(jù)寫(xiě)入壽命，這意味著在寫(xiě)入100TB數(shù)據(jù)時(shí)其指標(biāo)也能達(dá)到上述要求。

這個(gè)表格來(lái)自Intel

溫度確實(shí)也會(huì)對(duì)SSD的數(shù)據(jù)保存造成影響，從Intel給出的消費(fèi)級(jí)SSD關(guān)機(jī)溫度及活動(dòng)溫度下的保存時(shí)間來(lái)看，40°C活動(dòng)溫度、30°C關(guān)機(jī)溫度下SSD的數(shù)據(jù)保存時(shí)間是52周，也就是一年。關(guān)機(jī)溫度越高，SSD數(shù)據(jù)保存時(shí)間就會(huì)越短，活動(dòng)溫度25-30°C但關(guān)機(jī)溫度55°C時(shí)，SSD保存數(shù)據(jù)的時(shí)間就只有1周了，這就是之前的謠言中“數(shù)據(jù)保存時(shí)間只有幾天”的來(lái)源了，這種情況確實(shí)會(huì)發(fā)生，但根本不具有代表性。

現(xiàn)實(shí)中55°C的關(guān)機(jī)溫度幾乎不可能（PS：如果真有這樣的情況，我覺(jué)得這時(shí)候應(yīng)該先關(guān)心自己的人身安全而非數(shù)據(jù)安全了），因?yàn)榇蟛糠諷SD還是在室溫環(huán)境下使用，溫度通常都在30°C以?xún)?nèi)?；顒?dòng)時(shí)的溫度通常是40°C左右，系統(tǒng)內(nèi)其他部件也會(huì)產(chǎn)生熱量的。

最后從技術(shù)上解釋下這個(gè)數(shù)據(jù)保存的問(wèn)題。半導(dǎo)體的導(dǎo)電性跟溫度息息相關(guān)，這對(duì)NAND閃存來(lái)說(shuō)不是好消息，因?yàn)閿嚯娭箅娮永響?yīng)不再移動(dòng)，否則就會(huì)改變Cell單元的電荷。換句話(huà)說(shuō)，隨著環(huán)境溫度的升高，電子會(huì)更快地從浮柵極逃離，最終會(huì)導(dǎo)致Cell單元的電壓狀態(tài)改變，導(dǎo)致數(shù)據(jù)不可讀。（也就是SSD不能再保存數(shù)據(jù)）

活動(dòng)狀態(tài)下則是另一回事，更高的溫度會(huì)硅基導(dǎo)電性更高，P/E操作過(guò)程中電流量更高，隧道氧化層的壓力更少，這會(huì)提高Cell單元的可靠性，因?yàn)镾SD可靠性主要就是受限于隧道氧化層保持浮柵極中的電子的能力。（NAND的讀寫(xiě)原理也可以參考我們之前的文章）

總之，在典型的SSD使用環(huán)境下，我們根本不需要擔(dān)心SSD的數(shù)據(jù)保留問(wèn)題。前面的表格還只是通過(guò)了可靠性測(cè)試，全新的SSD數(shù)據(jù)保留率會(huì)更高，對(duì)MLC NAND閃存來(lái)說(shuō)通常是10年。如果你買(mǎi)了一個(gè)SSD放著不用，那么它直接被淘汰的可能性實(shí)際上比SSD不能保留數(shù)據(jù)的可能性更大。

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